电子产品为何要在老化房内进行高温老化试验？随着电子技术的发展，电子产品的集成化程度越来越高，结构越来越细微，程序越来越多，制造工艺越来越复杂，这使得在制造过程中会存在一些潜伏缺陷，那么引起产品的质量问题概括为以下两类：

一、产品的性能参数不达标；
二、潜在的缺陷，这类缺陷是不能用一般的测试手段发展，而需要在使用过程中逐渐被暴露，比如芯片和管壳热阻匹配不良、硅片表面污染等
一般这种缺陷需要在元器件工作于额定功率和正常温度下运行1000个小时左右才能被暴露，但是测试1000个小时是不现实的，因此需要对其施加热应力和偏压，也就是个电子产品施加热的、电的或者多综合的外部应力，模拟严酷工作环境，消除加工应力和残余溶剂等物质，使潜伏故障提前出现，尽快使产品进入高可靠的稳定期。
产品通过在老化房试验后，可以使元器件的缺陷、焊接和装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，老化后再进行电气参数测量，剔除失效或变值的元器件，从而保证出厂的产品能经得起时间的考验。为了增大电子产品的使用寿命以及使用时候的手感和质地，我们必须进行高温老化。